Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.
Electron and Ion Beam Characterization
Electron and Ion Beam Characterization
Ce cours fait partie de Spécialisation Semiconductor Characterization
Instructeur : Trevor Thornton
Inclus avec 
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4.8
(15 avis)
niveau Intermédiaire
Expérience recommandée
4 heures à compléter
Planning flexible
Apprenez à votre propre rythme
Ce que vous apprendrez
Explain the interaction of electron and ion beams with semiconductor materials.
Describe the constituent components of electron and ion beam characterization systems.
Describe applications of electron and ion beam characterization.
Compétences que vous acquerrez
- Catégorie : Electronic Components
- Catégorie : Quantitative Research
- Catégorie : Semiconductors
- Catégorie : Image Analysis
- Catégorie : Laboratory Equipment
- Catégorie : Laboratory Research
- Catégorie : Chemistry
- Catégorie : Qualitative Research
- Catégorie : Scientific Visualization
- Catégorie : Failure Analysis
Détails à connaître
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Évaluations
5 devoirs
Enseigné en Anglais
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Il y a 5 modules dans ce cours
Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.
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This week, you will complete a case study to assess your ability to use images obtained from an SEM for quantitative surface analysis.
Inclus
1 vidéo2 devoirs
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